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氮化鎵功率器件晶圓級測試舉例
Release date:2023-04-13 Writer: Category:Technical Article Views:579次
  • 測試未通過的芯片被標記，不被封裝
  • 在這個例子里，我們有:
  • ü所有芯片(die): 229
  • ü壞的芯片: 32
  • ü良率: 86%
  • 晶圓級測試的參數(shù)值范圍定義不能太窄，也不能定義太過寬松。太窄造成良率過低，太寬可能會放過一些有潛在問題的器件