晶圓級測試（CP）可以通過一些列的測試項目分別出好的和壞的芯片。這些測試項目包括室溫和高溫兩種測試條件。針對氮化鎵功率器件，很多公司還提供CP動態(tài)特性測試，以完善篩選。一些測試項目舉例：
通過 / 失效 取決于設定的參數(shù)范圍，CP測試廠會標記出壞的芯片（或者提供Wafer Map)
https://www.mjc.co.jp/en/technology/
http://www.jemam.com/probecard.htm
https://www.formfactor.com/
http://www.jem-net.co.jp/en/products/pro_hando_top.html
